上海树信仪器有限公司
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涂层测厚仪TT230
涂层测厚仪TT230

涂层测厚仪TT230的特点

   涂层测厚仪TT230是一种超小型的测量仪,它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。涂层测厚仪TT230可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
涂层测厚仪TT230的主要功能

 * 可进行零点校准及二点校准。
 * 可对测头进行基本校准。
 * 设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。
 * 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
 * 自动关机功能。
 * 删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
 * 操作过程有蜂鸣声提示。
 * 有欠压指示功能。
 * 有错误提示功能。
涂层测厚仪TT230主要技术指标

测量原理:涡流法
测量范围:1~1250μm
测量精度:±(3%H+1.5)μm(零点校准)
     ±[(1~3)%H+1.5] μm(二点校准)
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