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射频导纳物位控制器

　　 射频导纳式物位控制器是利用高频技术，由电子线路产生

　　 一个小功率射频信号于探头上，探头作为敏感元件，将来自物

　　 位介电常数引起的信号变化反馈给电子线路于这些变化包括电

　　 容量和电导量的变化，因而电子线路处理的是容抗和阻抗的综

　　 合变化信号,采用相位检测技术将这种变化检测出来，进行处理

　　 后继电器的输出。它是在原电容测量的基础上改进为射频导纳

　　 测量技术，代表了当今物位测量的新水平。

　　

　　

　　 主要技术参数

　　 一、整体型和分体型物位控制器

　　 灵 敏 度：0.5-1000pf

　　 介质压力：0-70kg/mз(根据不同温度确定)

　　 介质温度：-184℃至+260℃(根据不同压力确定)

　　 延长时间：0-30s

　　 输出继电器：DPDT 10A@115VAC 或 5A@ 220VAC

　　 分离型射频导纳物位控制器带自检电路

　　 二、整体型和分体型物位变送器

　　 测量范围：30M-60M